可以同时测量多层镀层加底材层，对于引线框架常用的如化学镍钯金（ENEPIG）等多层镀层结构，能准确分析各层的厚度，为镀层质量把控提供全面数据。

能够同时分析多种元素，可精准确定引线框架镀层中的元素组成，快速判断是否存在杂质元素或成分异常，有效保障镀层质量符合标准。

拥有定性、半定量和定量分析功能，不管是对引线框架镀层进行初步质量筛查，还是开展深入精确的成分与厚度分析，都能完美胜任，满足不同场景下的检测分析需求。